R&S頻譜分析儀配備LTE FDD/TDD訊號分析

2011 年 07 月 08 日

羅德史瓦茲(R&S)針對旗下手持式頻譜分析儀產品FSH4與FSH8發表可分析分頻雙工/分時雙工長程演進計畫(FDD/TDD-LTE)傳輸訊號的新選配件FSH-K50E與FSH-K51E。
 



在FSH4與FSH8手持式頻譜分析儀中,使用一個按鍵,即能執行基本LTE測量功能,包括LTE通道功率測量,已定義的LTE相鄰通道功率測量,和已定義測量雜訊發射中的LTE頻譜發射遮蔽。
 



而此次新增的軟體配件FSH-K50和FSH-K51的測量功能,增加LTE FDD基地台和LTE TDD基地台發射器的測量,包括射頻(RF)通道功率,載波頻率誤差/偏移,自動檢測使用者身份和循環字首,與LTE傳輸量和功率,可以利用實獲值管理(EVM)測量值表示,EVM測量值可在SISO、2×2、或4×4多重輸入多重輸出(MIMO) LTE系統執行。此外,FSH-K50E和FSH-K51E測量功能中,增強更多測量功能於LTE-FDD和LTE-TDD基站發射器分析;這些測量功能提供LTE分析基地台的空中掃描,並分析訊號品質和解調星座圖。
 



在LTE測量中可提供不同的調制測量結果,讓使用者能夠同時檢測發射器的障礙原因(例如訊號裁剪或訊號間相互干擾),此障礙很難在頻譜儀上被檢測到。電信網運營商,基地台供應商,租賃公司和使用者可以使用LTE完整的解決方案、和LTE可擴展的解決方案,執行LTE測量與分析如下:分析所有標準LTE訊號至20 MHz頻寬;以及打造可擴充性的LTE解決方案,可從基本LTE測量、擴充至應用性LTE測量。
 



羅德史瓦茲網址:www.rohde-schwarz.com

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