SMU軟硬體襄助 晶片電流洩漏測試精準達陣

作者: 小樵
2012 年 04 月 26 日
電流洩漏測試是半導體元件開發的重要環節。設計人員可透過電源量測單元(SMU)提供電壓,來量測元件接腳的漏電流。由於大多數的漏電流在微安培等級以下,因此須選用電流量測解析度達1奈米安培的SMU,並搭配適當測試軟體,才能得到最佳測試結果。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

軟、硬體相互搭配 半導體DC參數檢驗精準到位

2012 年 03 月 29 日

NI年度技術論壇催化圖形化系統設計新風潮

2011 年 11 月 24 日

逢甲機電整合實作競賽實踐NI工程教育理念

2012 年 07 月 17 日

單晶粒整合CMOS/MEMS技術 CMEMS振盪器減小溫度漂移

2013 年 10 月 28 日

霍爾感測器助電動車安全

2023 年 08 月 04 日

超導數位技術變革AI/ML發展 實現運算設備用電永續(2)

2024 年 10 月 04 日
前一篇
NB攝影機邁向高畫質 USB 3.0搶進新商機
下一篇
凌力爾特60V<sub>IN</sub>降壓切換穩壓器可耐80V瞬變