SOI提升晶圓良率 電子束檢測技術為關鍵

2005 年 10 月 21 日
絕緣層覆矽(SOI)晶圓由於具有低功率和高處理速度的優點,已獲得業界廣泛採用。這也使得採用新方法對SOI晶圓進行電子束檢測(EBI)的要求出現...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

把關規格書精準度 有助數位萬用電錶各司其職

2007 年 12 月 27 日

創造不同使用者體驗 四大觸控螢幕技術各擅勝場

2011 年 01 月 13 日

採用抗ESD/電突波保護元件 安防系統降低電路故障風險

2014 年 12 月 15 日

保護聯網汽車資安 FOTA更新高效又安全

2019 年 08 月 26 日

精確時間架構形塑5G布建彈性 ePRTC標準解營運商難題

2020 年 12 月 29 日

光通訊技術奔向800Gbps(1)

2023 年 09 月 04 日
前一篇
Freescale DSPD56374讓更多人享受杜比音效技術
下一篇
MCU技術發展暨應用解析研討會11月3日登場