愛德萬測試推出M5241記憶體分類機 專為AI應用設計
愛德萬測試(Advantest Corporation)今日隆重宣布推出M5241記憶體分類機(Memory Handler)，這款次世代分類機專為新興高效能記憶體元件設計，特別是用於人工智慧(AI)應用的產品，滿足其在效能、自動化與成本效率上的需求。新產品預計於2026年第二季開始出貨。
作為愛德萬測試記憶體測試機台策略的下一代產品，M5241採用垂直對接設計，可無縫整合至該公司最新的T5801超高速DRAM測試機，同時也相容於現有之T5833、T5503HS2及T5835測試機，使客戶能充分發揮既有設備的價值。M5241採用全新溫度控制架構，搭配可選配的主動式熱控技術，為先進記憶體IC(包含具高自發熱特性者)提供精準穩定的測試環境，直接提升客戶裝置的良率與可靠性。
愛德萬測試執行董事山下和之指出：「隨著記憶體架構日益複雜且功率密度不斷提升，穩定的溫度管理與高運作時間已成為量產測試的關鍵要素。M5241從零開始設計，旨在支援AI時代的記憶體元件，同時實現自動化、預測性維護及營運效率提升，以契合客戶打造智慧工廠的目標。」
M5241的開發是為因應AI與資料中心應用中，對高頻寬和大容量記憶體急速成長的需求。這款新型分類機不僅強化了愛德萬測試在市場上的領導地位，同時滿足客戶對更高吞吐量、更低成本及更佳營運透明度的期待。
這款新型分類機已於愛德萬測試內部使用實際記憶體IC與T5801測試機通過評估，並於量產條件下完成驗證，目前已獲多家主流記憶體製造商青睞，著手規劃採用中。
M5241分類機支援DDR5、次世代DRAM、NAND、AI記憶體及其他高密度記憶體。其具備高達512個平行測試站點，每小時最高吞吐量達46,000單位，並可適應標準溫度範圍-40°C至+125°C，或擴展溫度範圍-55°C至+150°C。此款新型分類機關鍵優勢如下：
高精準溫度控制：新型微型腔室搭配可選配的主動式熱控系統，即使在高自發熱負載下仍能維持元件溫度穩定，實現精準測試條件並提升良率。
透過卡料減少(jam-reduction)技術實現領先業界的高稼動率(uptime)：結合自動回復功能與專利的裝置錯位檢測技術，顯著提升生產線的整體設備效率。
提升維護性並降低持有成本：自動原點搜尋功能及免螺絲一鍵更換套件特色大幅精簡維護作業，與先前工作流程相較僅需四分之一時間，從而減少停機與營運成本。
符合現代化晶圓廠的自動化需求：相容於標準廠內天車與機器人系統，並可選配HM360軟體，支援進階自動化、視覺化資料及預測性維護。
更多關於M5241分類機及愛德萬測試全產品線資訊，歡迎於2025年12月17至19日親臨東京國際展示場(Tokyo...
2025 年 12 月 15 日
