愛德萬新推3D影像瀏覽器

愛德萬測試(Advantest Corporation)推出針對旗下Hadatomo系列光聲顯微鏡所設計之最新3D影像瀏覽器Euclid。Euclid瀏覽器能以疊加方式,整合Hadatomo工具量測得到的數據,透過3D影像呈現皮膚中的黑色素、血管網絡和皮膚結構等,並輕鬆製成斷層掃描圖。不僅如此,還能直接匯入影像顯示條件設定檔,方便比較各項量測數據,此款操作簡便的3D影像瀏覽器,是美容和醫療保健領域進行皮膚研究最理想的輔助工具。 3D影像顯示可協助Euclid...
2022 年 04 月 14 日

愛德萬測試新推影像處理引擎 瞄準智慧型手機CIS元件

愛德萬測試(Advantest Corporation)宣布第四代高速影像處理採用異質運算技術,偵測CMOS影像感測器(CIS)輸出資料中的瑕疵。最新T2000 IP Engine 4系統搭載於T2000...
2021 年 12 月 17 日

愛德萬記憶體測試機速度增至5.4Gbps

愛德萬測試(Advantest Corporation)宣布,T5800產品系列新推出經濟實惠、高同測數記憶體測試機。最新T5835系統具備5.4Gbps作業速度及大量同測能力,針對現階段與次世代DRAM核心及NAND記憶體提供多元廣泛的測試解決方案。 最新T5835系統對任何運作速度達5.4Gbps的記憶體IC都具備完整測試功能,包含各新世代記憶體,如NAND快閃記憶體、雙倍資料率(DDR)與低功率雙倍資料率(LPDDR)DRAM晶片都能滿足測試需求。此外,該系統內建專門的硬體功能,使其能降低測試成本,針對最終封裝級測試更能同時處理768個元件。 T5835系統功能包括DRAM已知良品(KGD)...
2021 年 12 月 06 日

愛德萬/PDF Solutions合作推動態參數測試最新解決方案

愛德萬測試(Advantest Corporation)與PDF Solutions 2020年7月宣布結盟後,首度發表強強聯手開發之作。最新愛德萬測試雲端解決方案(ACS)由PDF Exensio解決方案支援之動態參數測試(DPT),已獲一家大型整合元件廠(IDM)青睞採用。ACS為高安全性單一可擴充資料平台,創造出開放的解決方案生態系,幫助客戶因應智慧製造時代最迫切的挑戰。 此最新解決方案結合了PDF...
2021 年 10 月 07 日

愛德萬太赫茲光學取樣系統提高頻率解析度

愛德萬測試 (Advantest Corporation)發表旗下TAS7400TS太赫茲光學取樣分析系統的最新高頻率解析度選項。新選項具備優異的成本效益又操作簡便,為無線電波吸收與基板材料之高頻特性評估提供了極具開創性的測量方法。這些材料都是Beyond...
2021 年 10 月 06 日

愛德萬新模組強化智慧手機D-PHY/C-PHY影像IC測試

愛德萬測試(Advantest)推出針對旗下T2000測試平台之最新高速CMOS影像擷取模組,允許同時測試64個同時擁有D-PHY與C-PHY傳輸介面之智慧型手機元件。最新T2000 4.8-Gbps...
2021 年 01 月 12 日

量測儀器/供應鏈齊備 DDR5 2021伺服器應用先行

在JEDEC發布DDR5標準之後,相關供應鏈廠商積極展開布局,目前推測DDR5將會先行應用在效能需求高的伺服器與資料中心。面對市場動向,量測廠商提高測量準確率,記憶體廠商則在開發設計時尋求最佳應用組合...
2020 年 12 月 07 日

愛德萬VOICE 2021開發者大會論文徵集開跑

由半導體測試設備供應商愛德萬測試(Advantest)主辦,探討最新科技和未來趨勢的國際VOICE 2021開發者大會,即日起開始向全球徵集論文。本次大會以「匯聚科技,開創良機」(Converging...
2020 年 11 月 06 日

愛德萬Wave Scale RF8卡提升連線IC測試範圍

愛德萬測試 (Advantest)針對市場上需求不斷上升的作業頻率達8GHz之Wi-Fi 6E、5G-NR收發器、LTE-Advanced Pro以及IoT通訊裝置,隆重推出V93000平台新一代Wave...
2020 年 06 月 01 日

愛德萬獲頒星科金朋年度傑出服務與支援獎

愛德萬測試(Advantest)在新加坡所舉辦的頒獎典禮中,獲得星科金朋(STATS ChipPAC)所頒發的年度傑出服務與支援獎。此獎項旨在表彰設備材料供應商所提供的服務、支援及回應效率,可達成星科金朋技術策略藍圖目標。 愛德萬測試總裁、執行長暨代表董事黑江真一郎表示,愛德萬測試很榮幸多年來能與星科金朋建立長期且互利互益的成功合作關係。為所有客戶提供兼具高效率與成本效益的創新測試解決方案,始終為愛德萬測試致力追求的目標。 星科金朋策略營運事業部門資深副總裁Cindy...
2014 年 09 月 05 日

愛德萬測試發表DDR4與LPDDR4測試方案

愛德萬測試(Advantest)宣布發表專為新一代記憶積體電路(IC)所設計的最新測試解決方案,以滿足行動裝置與伺服器市場對新一代記憶IC的強勁需求。此套最新測試解決方案T5503HS延續廣為業界採用的T5503架構並加以改進,提供高速平行同測、完整相容性,並加入可升級設計,創造業界最佳性能,實現高產能低測試成本效益。 愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示,這套新測試系統是一套最能滿足新一代DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體測試需求的解決方案,因為T5503HS可提供最高測試效率,讓客戶獲得最大資本投資回報。 隨著可上網功能的行動裝置與相關支援伺服器在資料處理量不斷激增之下,高速高容量記憶晶片製造商亟需具成本競爭力的測試解決方案加速推出新興DDR4-SDRAM與LPDDR4-SDRAM記憶體等新產品上市。愛德萬測試全新T5503HS系統可提供符合記憶體製造商需求之功能,同時降低測試成本。 T5503HS測試速度最高可達4.5Gbit/s,此速度足以因應現今最高階雙倍資料傳輸速度記憶體最高4.266Gbit/s運作頻率。T5503HS藉由Cyclic...
2014 年 02 月 21 日

愛德萬兆赫波光譜造影系統獲首爾大學採用

愛德萬測試兆赫波光譜造影系統TAS7500已獲韓國首爾大學採用。愛德萬測試預計,隨著首爾大學導入此套系統之後,將促使其他大學、一般企業、研究機構加速跟進應用兆赫波分析技術,帶動該公司兆赫波系統需求增加...
2014 年 01 月 08 日
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