愛德萬新一代SoC測試分類機問世

愛德萬測試推出最新一代系統單晶片(SoC)元件測試分類機–M4871,現有客戶將可就地升級。這款全新M4871分類機除承襲愛德萬測試原有技術優勢外,並提供最新先進功能,不僅具備以愛德萬測試獨有溫控(Tri-Temp)技術所開發的高產能主動式熱控目視調準功能,所有資料也採全新視覺化架構,使用者只要透過網路就能即時監控測試機台生產進度。 ...
2013 年 11 月 26 日

愛德萬測試電子束微影系統獲產學界肯定

愛德萬測試(ADVANTEST)宣布全新F7000電子束微影系統獲得產學界下單肯定,三筆訂單分別來自日本東京大學、京都大學與一家半導體客戶。愛德萬測試預訂於2014年3月年度財務結算前內完成交貨。 ...
2013 年 10 月 25 日

愛德萬切入SSD測試市場

愛德萬測試(Advantest)發表多功能NEO-SSD平台,揮軍高階PCI Express(PCIe) 3.0 NVMe企業級/消費性應用固態硬碟(SSD)測試市場。愛德萬測試以此平台為基礎開發一系列測試解決方案,預定於今年第四季開始向客戶出貨。此NEO-SSD平台可隨需設定,支援多種通訊協定,具備各種SSD系統等級測試功能,包括工程驗證、設計驗證、可靠性驗證與生產測試。 ...
2013 年 07 月 31 日

晶圓測試需求增 愛德萬拓展MEMS探針卡測試

愛德萬測試(Advantest)即將在台灣擴展微機電(MEMS)探針卡(Probe Card)業務。看好智慧電視、液晶(LCD)面板相關半導體元件發展,2013年愛德萬將開拓機電系統(Mechatronics...
2013 年 01 月 18 日

愛德萬8Gbit/s數位模組支援SoC高速測試

愛德萬測試(Advantest)推出T2000 8Gbit/s數位模組(8GDM),滿足系統單晶片(SoC)裝置各式介面高速測試需求,包括序列式、並行式,以及記憶介面如PCI-Express與雙倍資料傳輸率(DDR)連接等。該公司並將於今年12月5~7日,在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的SEMICON...
2012 年 11 月 29 日