愛德萬切入SSD測試市場

愛德萬測試(Advantest)發表多功能NEO-SSD平台,揮軍高階PCI Express(PCIe) 3.0 NVMe企業級/消費性應用固態硬碟(SSD)測試市場。愛德萬測試以此平台為基礎開發一系列測試解決方案,預定於今年第四季開始向客戶出貨。此NEO-SSD平台可隨需設定,支援多種通訊協定,具備各種SSD系統等級測試功能,包括工程驗證、設計驗證、可靠性驗證與生產測試。 ...
2013 年 07 月 31 日

晶圓測試需求增 愛德萬拓展MEMS探針卡測試

愛德萬測試(Advantest)即將在台灣擴展微機電(MEMS)探針卡(Probe Card)業務。看好智慧電視、液晶(LCD)面板相關半導體元件發展,2013年愛德萬將開拓機電系統(Mechatronics...
2013 年 01 月 18 日

愛德萬8Gbit/s數位模組支援SoC高速測試

愛德萬測試(Advantest)推出T2000 8Gbit/s數位模組(8GDM),滿足系統單晶片(SoC)裝置各式介面高速測試需求,包括序列式、並行式,以及記憶介面如PCI-Express與雙倍資料傳輸率(DDR)連接等。該公司並將於今年12月5~7日,在日本千葉縣幕張國際展覽中心舉辦的SEMICON...
2012 年 11 月 29 日