宜特聯手國研院太空中心跨足太空驗證產業

為加速執行我國第三期「太空科技長程發展計畫」,帶動國內太空產業發展,國家實驗研究院國家太空中心(國研院太空中心)日前與宜特科技(iST)簽署合作意願書(MOU),雙方將於「太空零件檢測驗證」方面展開具...
2020 年 03 月 18 日

宜特獲HDMI Cable認證可協助客戶取得4K/UltraHD防偽標籤

為因應HDMI協會日前推出的HDMI影音傳輸線認證計畫(Premium HDMI Cable Certification Program),宜特科技(iST)宣布,已通過Simplay Labs稽核,成為該計畫在台灣首家的合格實驗室,即日起可提供線材業者(Cable),測試其高速HDMI傳輸線在4K/UltraHD內容上需具備的品質、性能,並核發防偽標籤Logo認證。...
2015 年 11 月 17 日

宜特TEM材料分析技術突破10奈米

宜特科技(iST)材料分析檢測技術已突破10奈米製程。該技術不僅協助客戶在先進製程產品上完成TEM分析與驗證,更獲積體電路失效分析論壇(IPFA)肯定,並於會議期間發表最新研究成果。 近年來企業為打造效能更高、功耗更低、體積更小的半導體元件,以滿足現今智慧產品之需求,各大廠在先進製程開發的腳步越來越快,已從去年20奈米製程,邁入今年的14奈米製程;其中包括台積電,英特爾,三星等大廠,更預計陸續於明年進入10奈米以下的量產階段,因此帶動整個供應鏈的TEM分析需求。 宜特繼去年布建TEM設備,聘僱多位博士級的TEM專家,如國內TEM權威博士鮑忠興,經過一整年研發,不僅產能大躍進,其檢測分析能量更從去年14奈米,向下突破至10奈米製程,更獲多間客戶如LED磊晶廠、半導體設備廠與晶圓代工廠肯定,下半年將持續擴產以因應客戶需求。...
2015 年 07 月 16 日

宜特/DEKRA合資進攻檢測市場

宜特(IST)近日宣布與歐洲DEKRA簽署合資策略聯盟契約。宜特將發光二極體(LED)、印刷電路板(PCB)、電路板組裝(PCBA)和系統可靠度驗證分析服務,與DEKRA策略聯盟合作,成立德凱宜特股份有限公司(Dekra...
2015 年 05 月 15 日

iST集團研發成果再添佳績

iST宣布台灣宜特總部與子公司上海宜碩,從全球個中好手脫穎而出,高達三篇研究成果,獲選進入2013年積體電路失效分析論壇(IPFA)發表研究成果。 IPFA為IEEE於1985年成立,至今已發展為世界舉足輕重的可靠性與失效分析會議組織。今年,第20屆IPFA國際會議,將於7月15~-19日大陸蘇州舉行,宜特將在此會議中,以IC質量為主軸,分別探討「3DIC微凸塊失效觀察」、「IC電磁輻射消除」與「EOS脈衝波過電保護」三方面。 在3DIC方面,iST研究出兩種克服的方式,其一是利用研磨技術將3DIC微凸塊(u-bump)失效區域定位,並搭配聚焦離子束顯微鏡(FIB),將其失效微凸塊切削進行斷面觀察;其二是擴大可觀察的微凸塊範圍,從100微米(um)提升至3000微米,此兩項技術亦可使用在3DIC的矽穿孔(TSV)結構觀察。 而在IC電磁輻射消除的研究上,iST藉由傳統與專利研發的新型FIB搭配,將任意電容值的電容放置於IC晶片上,並與IC內部的訊號節點作連結。藉此方法,客戶不需重新投片,即可找到電磁輻射源頭並加以消除,提供IC設計者一種CP值極高的IC...
2013 年 05 月 21 日