實體層測試嚴把關 高速介面訊號不失真

在資料量攀升,且影像解析度也愈來愈高的情況下,為滿足用戶的使用者體驗,各種高速傳輸介面的傳輸速率已紛紛跨越3Gbit/s門檻;然而,伴隨而來的即是量測實體層訊號的重重挑戰。為此,量測時除須掌握既有測試要項外,還須加入訊號完整性的通盤考量。
2011 年 11 月 10 日

搶攻高速傳輸介面商機 PCIe/USB 3.0量測方案到位

現階段第三代通用序列匯流排(USB 3.0)市場普及率遲遲未見明朗,導致各界對於USB 3.0前景有諸多揣測,然即便如此,製造商仍競相投入測試,以免錯失進場良機;再者,2010年底前PCIe 3.0標準已定案,尤其實體層(PHY...
2011 年 06 月 30 日

安捷倫發表適用PCI Express3.0接收器特性測試解決方案

安捷倫(Agilent)日前推出適用於PCI Express 3.0接收器特性描述的測試機組。安捷倫PCIe 3.0接收器特性描述測試解決方案提供完整而準確的接收器容忍度測試結果,同時可將研發工作減到最少。使用安捷倫的測試機組,半導體與電腦產業的設計和測試工程師,便可以對特定應用積體電路(ASIC)和晶片組中的接收器埠,進行準確的特性描述與標準符合性驗證。 ...
2011 年 01 月 31 日