T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試

產品出廠前通常須進行許多不同測試,有的是數位訊號,有的是類比訊號,甚至有射頻(RF)訊號,但以往方式為使用大型的自動化測試系統(ATE),一台ATE幾乎可完成所有的測試,但對於現在低價產品來說,ATE...
2012 年 06 月 25 日