睿生光電參加2025 SEMICON Taiwan 展示數位X光檢測解決方案

睿生光電將於9月10日至12日參加「2025 SEMICON Taiwan國際半導體展」,展出數位X光檢測解決方案與先進非破壞檢測技術。公司持續深化一站式檢測服務,專注於先進半導體製造所需的高階檢測技術與產品,為工業4.0與智慧製造提供創新動能。 董事長楊柱祥表示,睿生致力於提供完整的工業檢測解決方案,並與合作夥伴及客戶共同面對新技術挑戰,提供最適化的檢測策略與技術支援,協助產業升級與創新。隨著X光檢測技術在半導體產業及其他應用領域的擴大,睿生將持續深化高階製程檢測領域的影響力,強化台灣在全球半導體供應鏈中的競爭力。 本次展覽中,睿生將展示一系列數位X光平板感測器與非破壞檢測系統,包括可攜式X光檢測設備及3D-NIR光學斷層掃描,廣泛應用於面板級先進封裝、玻璃穿孔基板及碳化矽及AI伺服器液冷系統等關鍵製程檢測技術,並加速布局先進封裝領域。此外,透過高解析度的非破壞檢測技術結合AI智慧分析演算法,能精準辨識微小瑕疵,實現量產階段的即時監控與製程最佳化,協助客戶導入更高效率與高可靠性的製程控管方案。 隨著5G、AI...
2025 年 09 月 08 日

EDS分析應考量輕元素吸收效應 碳/氮/氧低能量X光易被吸收(1)

在進行TEM/EDS成分分析時,特別是涉及碳、氮、氧等輕元素時,低能量X光被吸收的效應仍然相當明顯,而且被吸收的量會隨著試片厚度的變化而改變。必須藉由某些特殊的校正技術,才能重新拉回準確度。 隨著半導體技術的不斷演進,奈米區域成分分析在新製程開發中的重要性日益突顯。透過透射電子顯微鏡/能量分散光譜(TEM/EDS)技術,研究人員能夠深入鑑定奈米區域的成分資訊。然而,在進行TEM/EDS成分分析時,特別是涉及碳、氮、氧等輕元素時,低能量X光被吸收的效應仍然相當明顯,而且被吸收的量會隨著試片厚度的變化而改變。 非常恰巧的是,這些輕元素的化合物都是製造半導體元件常用的材料。因此,用TEM/EDS做半導體元件成分定量分析時,如果有碳、氮、氧等任何元素牽涉在內時,不準度將會提升,必須藉由某些特殊的校正技術,才能重新拉回準確度。 EDS成分分析 EDS成分分析儀可架設於TEM和SEM兩種電子顯微鏡上,本文探討的成分分析技術專注在TEM/EDS中。做EDS成分分析的人都知道在SEM/EDS系統中,輕元素的X光吸收效應非常顯著,所以定量成分分析時,必須使用ZAF法修正。Z指原子序數(Atomic...
2024 年 09 月 13 日

EDS分析應考量輕元素吸收效應 碳/氮/氧低能量X光易被吸收(2)

在進行TEM/EDS成分分析時,特別是涉及碳、氮、氧等輕元素時,低能量X光被吸收的效應仍然相當明顯,而且被吸收的量會隨著試片厚度的變化而改變。必須藉由某些特殊的校正技術,才能重新拉回準確度。 X光吸收 (承前文)第二個使氧和氮的能峰高度偏低的機構是吸收效應。在試片內產生的X光,必須先能夠逸出試片,才有機會進入EDS偵測器。X光在試片內行進時,X光的能量愈小,路徑愈長,逸出試片的機率就愈低。消失在試片內的X光稱之為被試片吸收,如圖4(a)所示,圖中箭頭的寬度代表訊號的強度,藍色箭頭代表高能量(>...
2024 年 09 月 13 日

TI:低雜訊電壓參考提升X光影像清晰度

提升X光影像解析度最有效的方法之一,就是透過精心設計的資料擷取部分來減少前端的雜訊。在資料擷取電路中使用低雜訊串聯電壓參考,是可降低雜訊並進而提升影像解析度的設計選擇之一。本文將展示如何選擇如德州儀器...
2024 年 05 月 17 日

TI針對醫療/工業影像應用推出100MSPS ADC

德州儀器(TI)推出一款八通道12位元100MSPS類比數位轉換器(ADC)–ADS5295,與同類產品相比,提供業界最低功耗,每通道功耗低於80毫瓦(mW),為高通道密度應用降低電路板溫度與電源損耗。   ADS5295具備德州儀器獨特數位處理區塊(Digital...
2013 年 02 月 07 日