介紹雜訊指數定義與量測方法 Y因素與冷雜訊為常見量測技術

作者: John McLaughlin
2005 年 03 月 03 日
雜訊指數(NF)長久以來對量測裝置有很深遠的關鍵及影響力。而本文中所主要探討的是雜訊指數測試項在大量生產環境中所存在的一些問題。本文將提出對雜訊指數之嚴謹的定義及比較2種常用的量測方法,連同分析測量的資料和利用仿真的結果作一比較,提供對測量之結果及加入錯誤來源所產生的影響...
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

透視電磁基本原理 磁性元件設計功力大增

2009 年 07 月 29 日

以軟體模擬專用設備功能 NFV技術革新網路架構

2014 年 06 月 09 日

無回饋通道突破電壓限制 返馳控制器空間大精省

2020 年 01 月 07 日

窄脈寬/高電流/低寄生電感兼具 eGaN推進車用光達應用

2020 年 06 月 01 日

添加DDR5功能 SDRAM效能/部署能力大增

2020 年 01 月 06 日

電大尺寸問題分析不易 先進求解技術滿足5G模擬需求

2020 年 09 月 24 日
前一篇
德國萊因專業驗證 CeBIT秀展服務不打烊
下一篇
MAXIM推出5V、差動輸入、DirectDrive、130mW立體聲耳機放大器