太克(Tektronix)推出 TLA7S16 /TLA7S08 串列分析儀，可供進行 PCI Express (PCIe) 1.0 與 2.0 設計的測試與驗證。該產品提供詳細的 PCIe 2.0 通訊協定資訊，以及跨匯流排的分析，擴充產業最完整的 PCIe 測試解決方案，讓新一代高速運算平台的發展得以進行。
太克表示，PCIe 2.0 為設計工程師帶來一組新的驗證挑戰。驗證實體層事件的能力是關鍵，加上需具備完整的系統可視性，以找出可能來自系統中其他匯流排難以捉摸的問題，這須能透過所有動態變更狀態，擷取 PCIe 訊號的測試設備達成。該產品是進行 PCIe 1.0 與 2.0 設計除錯與驗證時，最佳的邏輯測試解決方案。
除了串列分析儀外，也推出全新的 P6716/P6708 中途匯流排探棒，及預先推出的插槽內插式探棒，以進行 PCIe 2.0 所有層級的測試與驗證。插入 Tektronix TLA7000 系列邏輯分析儀的此一全新分析儀，新增進行通用訊號除錯並建立關聯的功能，以及其他包括記憶體與電腦處理器的系統互連。
太克TLA7000 串列邏輯分析儀、TLA7S16 與 TLA7S08 串列分析儀、P6716/P6708 中途匯流排探棒，以及預先推出的插槽內插器，可用來測試與驗證 PCIe 通訊協定的所有層級：實體層、資料連結層與執行層。
在實體層的邏輯次區塊下是電氣次區塊。太克為電氣次區塊提供最強大的 PCIe 2.0 測試解決方案，包括領導產業的 DSA70000 即時與 DSA8200 取樣示波器、AWG7000 任意波形產生器，以及完整的測試軟體。這個新一代的太克量測工具，可協助工程師應付 PCIe 2.0 所帶來的測試挑戰。這些新一代的儀器和應用軟體解決方案，構成了全新的完備高速串列資料測試平台。
太克網址： www.tektronix.com
