奈米製程步步為營

提升生產力/降低測試晶圓成本 監控晶圓再利用至為關鍵

2008 年 09 月 15 日
檢測系統可透過延長監控晶圓的使用壽命與減少新測試晶圓的需要,以減少生產成本,不但有助大型晶圓代工廠增加廠內回收率並且減少15%的再拋光率,同時每年可省下超過300萬美元的費用。
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