品牌是韓國三星電子突破”代工微利”的重要策略，優良的產品品質及行銷是品牌成功的兩大基石，而校正又是電子產業品質保證體系之母，新的測試技術亦會帶來產品設計的革命，浩網科技特地?南部的客戶舉辦”掌握測試新技術，提升競爭力研討會”，本研討會的三大主軸為
2.高頻校正實務。
3.邊界掃描(JTAG Boundary Scan)測試技術對產線測試的革命。
報名辦法如下，名額有限，請盡速報名以免向隅。
掌握測試新技術，提升競爭力研討會議程
時間 議程
01:00PM~01:20PM 來賓報到
01:20PM~01:30PM 研討會開幕致詞
01:30PM~02:30PM 整合式標準件?儀校實驗室帶來的校正測試新方案
02:30PM~02:50PM 茶點時間
02:50PM~03:50PM 高頻校正實務探討
03:50PM~04:20PM
邊界掃描(JTAG Boundary Scan)測試技術對產線測試的革命
04:20PM~04:40PM Q & A
地 址時間：2004/10/27(三)地點：經濟部南科育成中心國際會議廳
地址：台南縣台南科學園區南科二路12號如欲報名，請致電（02）82269536分機300何小姐洽詢
