台灣類比IC市場淘汰賽開打

嚴格把關量產測試流程 高效能類比IC唾手可得

作者: Frank Ohnhaeuser
2008 年 10 月 30 日
類比IC產品通常已在資料表中明確定義相關參數規格與功能,因而必須針對各個裝置進行完整量測工作。為提升產品可靠性,單純的功能測試或統計測試已無法滿足此一要求,必須同時考量溫度漂移與測試設備的準確度,方能達到最佳品質。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

脫離Moto 路更寬廣 Freescale混合發展求取最大利益

2004 年 10 月 15 日

嘎然而止的wapi標準 掀起中國大陸自訂規格潮

2004 年 11 月 25 日

無線傳輸/功耗問題未解 iPhone行動力受阻

2007 年 07 月 06 日

共食影音服務商機 OTT/有線電視商聯手吸「睛」

2014 年 04 月 17 日

ADAS技術成熟 車用感測市場正熱

2018 年 07 月 16 日

伺服器PSU面臨雙重挑戰 寬能隙元件機會來了(3)

2023 年 04 月 27 日
前一篇
安捷倫MIPI D-PHY平台獲ST Microelectronics採用
下一篇
安捷倫更新行動WiMAX綜合測試儀軔體