愛德萬測試推T2000影像感測元件解決方案平台全新高速模組，支援大規模並行同測，從第一顆製成晶片到量產，全程降低互補式金屬氧化物半導體(CMOS)影像感測元件測試成本
現今市場上附相機功能的消費性電子產品比比皆是，從智慧型手機、平板電腦，到數位攝影機、汽車夜視系統等，可謂方興未艾，這些產品所產生的影像畫素尺寸和解析度更是不斷向上攀升，而相機的核心–CMOS影像感測元件也因為加入AD/DA等功能與其他(SoC)電路設計，變得更加複雜。種種因素促使測試設備不但要能測試日益複雜的電路設計，還必須提高影像處理速度和資料傳輸率，才能維持高測試產能，降低測試成本。
愛德萬測試3GICAP模組可與T2000測試平台完全相容，提供業界速度最快的影像擷取能力，在內建時脈協定下傳輸率高達3Gbit/s，在來源同步化協定下傳輸率達1.5 Gbit/s，因此能以極具成本效益的作法，並測64D-PHY與M-PHY介面晶片，滿足影像感測元件市場日益增長的需求。
愛德萬網址：www.advantest.com
