是德科技新試驗器能有效改善PCIe裝置電源效率

2015 年 08 月 11 日

是德科技(Keysight Technologies)日前推出Keysight U4305B PCI Express協定試驗器,以協助使用者加速開發PCIe Gen3系統。該試驗器提供各種PCIe測試工具,可用來驗證所有鏈路的Gen1、Gen2 和Gen3運作效能,滿足PCIe開發人員的廣泛需求,且可測試非揮發性記憶體(NVMe)和超低功耗(被稱為L1子狀態)運作等新技術。


台灣是德科技總經理張志銘表示,該款試驗器為PCIe開發人員提供了更高水準的測試功能。


該試驗器內建的測試平台方便使用者對PCIe或NVMe操作部署自動化測試,透過該平台內建的腳本程式,可驗證主動式電源管理(ASPM)或PCI-PM L1子狀態的操作。這些預先編寫的測試腳本可針對各種狀態提供試驗,以獲得關於控制暫存器操作,和每個進入L1子狀態/恢復操作的通過/不通過測試結果。


此外,新款試驗器還提供LTSSM測試套件,讓工程師能執行鏈路協商測試,進而對待測裝置(DUT)的LTSSM功能進行全方位測試;且還能驗證PCIe狀態轉換和狀態逾時,可提供超過五十種預設LTSSM測試,以便深入評估DUT的運作。


而測試NVMe時,該試驗器可模擬主機或裝置,以便送出並執行NVMe命令,或是產生錯誤測試序列。透過NVMe測試,使用者不僅可改善裝置之規格相符性、增強其互通性,同時還可經由各項測試深入洞察裝置的運作情形,進而縮短測試時間。


是德科技網址:www.keysight.com.tw

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