量測儀器化整為零

簡化半導體測試作業 PXI模組小兵立大功

作者: 小樵
2010 年 10 月 28 日
半導體製程技術日新月異,對於測試系統速度、成本與彈性要求更加嚴苛,遂使PXI模組化儀器應運而生,其透過簡化半導體測試系統,同時兼顧成本與效能,在半導體測試產業界已蔚為風潮。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

結合多工與資料擷取器 萬用電表助力電性測試

2012 年 01 月 09 日

軟/硬體功能有彈性 模組化儀控擴展ATE應用

2012 年 01 月 16 日

T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試

2012 年 06 月 25 日

考量解決方案整體效能 單/多節PV系統各擅勝場

2011 年 03 月 24 日

一次搞懂模組化/單機儀器差異 模組化儀器五大迷思面面觀

2014 年 10 月 30 日

波形更新/觸發/長時記錄面面觀 數位示波器驗證/除錯迎新機

2020 年 05 月 21 日
前一篇
綠能管理聲浪高 北美產研界展開全球布局
下一篇
瑞薩電子強化中國銷售結構