量測儀器化整為零

簡化半導體測試作業 PXI模組小兵立大功

作者: 小樵
2010 年 10 月 28 日
半導體製程技術日新月異,對於測試系統速度、成本與彈性要求更加嚴苛,遂使PXI模組化儀器應運而生,其透過簡化半導體測試系統,同時兼顧成本與效能,在半導體測試產業界已蔚為風潮。
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