高精度OCXO助陣 LTE量測儀器可靠性大增

作者: 編輯部
2013 年 10 月 19 日
LTE蓬勃發展連帶使得OCXO重要性與日俱增。因應長程演進計畫(LTE)測試項目愈來愈複雜,量測設備製造商無不推出全新綜合無線通訊分析儀,並改採物理特性更穩定且抗老化程度更佳的恆溫槽控制石英晶體振盪器(OCXO),進一步提升LTE測試精準度與可靠性。
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