NI PXI優化半導體特性描述/生產測試能力

2011 年 09 月 21 日

美商國家儀器(NI)再度擴充其PXI平台功能,以新款PPMU(Per-pin Parametric Measurement Unit)與電源量測單位(SMU)模組,用於半導體特性描述與生產測試。其中,NI PXIe-6556-200MHz高速數位輸入/輸出(I/O)具備PPMU;PXIe-4140與PXIe-4141 – 4通道SMU可降低設備成本、縮短測試時間,並提生混合式訊號的彈性,測試多款裝置。
 



PXIe-6556高速數位I/O模組,可達最高200 MHz而產生/擷取數位波形;或於同一針腳上,以1%誤差之內執行直流電(DC)參數量測,可簡化接線作業、減少測試次數,並提高測試器密度。此外,其內建的時序校準功能可自動調整時序,可降低不同連接線與線路(Trace)長度所造成的時序歪曲,亦可降至最低。同時,亦可選擇是否以其他SMU切換,以達更高精確度,工程師可根據硬體或軟體觸發器,進而觸發參數量測作業。
 



PXIe-4140/41 SMU模組則可於各PXIe插槽,提供最多四個 SMU 通道;而4U機架高度的單一PXI機箱可達最多六十八個SMU通道,以輕鬆測試高針腳數的裝置。透過1秒可達最多六十萬樣本的取樣率,工程師可大幅減少量測次數,或擷取重要的暫態特性參數。此外,PXIe-4141具備新一代的SourceAdapt技術,讓工程師可根據任何已知負載而微調SMU輸出,達到最高穩定度與最短暫態期間。傳統 SMU 技術並無法提供如此功能。
 



整合NI LabVIEW系統設計軟體之後,新款PPMU與SMU模組更能為半導體,提供模組化的軟體定義測試方式,不論是檢驗、生產、特性描述作業,均可提高品質、降低成本,並縮短測試時間。
 



美商國家儀器網址:www.ni.com

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