T-Clock技術助攻 PXI實現同步整合測試
產品出廠前通常須進行許多不同測試，有的是數位訊號，有的是類比訊號，甚至有射頻(RF)訊號，但以往方式為使用大型的自動化測試系統(ATE)，一台ATE幾乎可完成所有的測試，但對於現在低價產品來說，ATE售價昂貴，根本不符合成本需求，所以PXI測試平台便隨之而起；除具備由直流電(DC)、混合訊號至射頻等完整的模組化儀器外，還能快速建構整合測試系統，而要能達到整合同步測試，就需要仰賴T-Clock(TClk)技術。
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