是德實體層量測系統大幅縮減75%測試作業時間

2015 年 03 月 12 日

是德科技(Keysight Technologies)推出2015年版實體層測試系統(PLTS)–N1930B。這套訊號完整性測試軟體可協助工程師設計和驗證高速數位互聯裝置並具備N埠自動測試夾具移除(AFR)功能,可去除多個測試夾具所產生的效應,相較於其他傳統錯誤修正方法,大幅縮短75%的測試作業時間。


據了解,N埠自動測試夾具移除解嵌入功能可量測多個測試夾具的開路。如此一來,工程師可透過單次自動測試夾具移除操作,輕鬆去除所有的不良效應;過去,使用傳統的穿透、反射及傳輸線校驗方法,工程師須執行一百五十個以上的校驗步驟,而N埠自動測試夾具移除只要不到十個錯誤修正步驟即可。此外,還可有效減少特殊校驗板的設計和製造成本。


另外,新軟體還具備兩項特性,第一是支援模組化PXI向量網路分析儀(VNA)。利用PXI VNA多達三十二個埠,工程師現在可在單次量測中同時評估八個差動通道的特性。此外,其圖形操作介面方便工程師輕鬆管理單一資料檔中超過九百個S參數。


另一個強大的新功能是輪循Round Robin)精靈,讓工程師能利用比實驗室使用的向量網路分析儀更多的埠,來量測待測裝置。例如,使用一個四埠向量網路分析儀來量測十二埠的裝置。


是德科技網址:www.keysight.com

標籤
相關文章

安立知推出110GHz寬頻VNA系統

2014 年 04 月 17 日

安立知向量網路分析儀降低E-band及微波測試成本

2015 年 12 月 18 日

安立知針對40Gb/s收發器提供O/E校準模組

2015 年 04 月 02 日

是德多埠向量網路分析儀降低測試成本

2015 年 10 月 22 日

安立知首款43.5GHz單埠向量網路分析儀亮相

2020 年 02 月 05 日

稜研主動式毫米波可重構智慧表面提升5G FR1/FR2覆蓋率

2024 年 09 月 30 日
前一篇
突破網路流量瓶頸 SiBEAM發布WiGig新方案
下一篇
溫瑞爾/Altiostar聯手加速NFV C-RAN發展